CAS 140D – 全球公認標準高精準光譜儀
Instrument Systems 的最新高端 CAS 140D 陣列光譜儀被視為弱光源和高輻射度的高精度光譜光測量技術的基準。
該產品基于久經考驗的交叉 Czerny-Turner 光譜儀并配備具有冷卻性能的 CCD 探測器，具有以下特色
· 最高的測量準確度和雜散光抑制
· 再現性和穩定性
· 極短的積分時間
CAS 140D 的應用范圍從國家校準實驗室的標準儀器到生產中的 24/7-Dauermessung。Instrument Systems 的一個特定質量屬性是可追溯至 PTB 和 NIST 的校準，我們所有的光譜儀都配備該校準功能。
與廣泛的配件搭配組合，可以將光譜儀升級為一體化系統，適用于各種光譜輻射和光度測量任務。
在校準過程中使用雜散光校正矩陣運算（可選），可進一步降低 CAS 140D 原本就極其出色的雜散光值。因此，該測量儀器也非常適合 UV-LED 的精準測量和 LED 光源危害等級（光生物安全）的測定。
CAS 140D – 產品特長：
· 作為標準儀器在全球使用
· 200 – 1100nm 都有相應型號
· 具有冷卻性能的“薄型背照式”探測器，用于最小暗電流
· 具有最強雜散光抑制的光譜儀
· 4 ms 至 65 s 的積分時間
· 配件自動識別
· 綜合性 SpecWin Pro 光譜軟件
· 高精度測量關聯色溫 (CCT) 和顯色指數 (CRI)
· 標準色度坐標上僅 ±0.0015 的可追溯測量不確定性
· 額外雜散光校正（可選）
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型號 | UV/VIS | UV/VIS/NIR | VIS | VIS/NIR |
光譜范圍 | 200-830 nm | 220-1020 nm 300-1100 nm | 360-830 nm | 380-1040 nm |
光譜分辨率
(100 μm 狹縫) | 3.0 nm | 3.7 nm | 2.2 nm | 3.0 nm |
數據點間隔 | 0.65 nm | 0.8 nm | 0.5 nm | 0.65 nm |
LED 的雜散光 | 1·10-4 | 1·10-4 | 1·10-4 | 1·10-4 |
波長測量精度 | ±0.2 nm | ±0.2 nm | ±0.2 nm | ±0.2 nm |